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    研究稱手機缺陷或致腦癌 無害論是一面之詞(圖)
2009年08月27日 09:30 來源:賽迪網(wǎng)  發(fā)表評論  【字體:↑大 ↓小
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  國際電磁輻射調(diào)查機構(gòu)日前向政府遞交的文件表明,手機的設(shè)計中存在的缺陷可能導(dǎo)致對用戶大腦的損害。

  報告的結(jié)論表明:“手機用戶有顯著的腦癌風(fēng)險。”在此之前的無害言論,完全基于政府和產(chǎn)業(yè)的一面之詞,建立在EMR毫無生物影響的前提下。而手機設(shè)計的缺陷確實有可能對用戶的健康造成損害。

【編輯:劉霏
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我國實施高溫補貼政策已有年頭了,但是多地標(biāo)準(zhǔn)已數(shù)年未漲,高溫津貼落實遭遇尷尬。
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